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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
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赛默飞(原FEI)Quattro
Thermo Scientific™ Quattro™ 将成像和分析的全面性能与独特的环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。如今,研究型实验室普遍要求现代的扫描电子显微镜可以
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案和嵌入式组件
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜(Scanning Electron
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜
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赛默飞(原FEI)Scios 2 DualBeam 透射电镜 TEM
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系统,可为的最广泛类型的样品,包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。
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赛默飞(原FEI)Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)
新一代 Thermo Scientific™ Krios™ G4冷冻透射电镜Cryo-TEM是该系列产品中设计最紧凑的。通过对机械底座框架和设备外壳的全新设计,该款设备净身高缩短至3 m以内,适用于
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